無(wú)塵布的 “發(fā)塵量”，指其在特定環(huán)境與外力作用下，釋放微小顆粒（通常以直徑≥0.3μm、≥0.5μm 等規(guī)格界定）的數(shù)量，是衡量無(wú)塵布潔凈度的核心指標(biāo)，直接影響電子、半導(dǎo)體、生物醫(yī)藥等精密行業(yè)的生產(chǎn)環(huán)境潔凈度。

發(fā)塵量測(cè)試需遵循專(zhuān)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（如 ISO 14644-3、GB/T 25032），核心流程如下：首先將無(wú)塵布樣品置于 Class 1 級(jí)超凈環(huán)境中，經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)裁剪（通常 10cm×10cm）后，采用 “振蕩法” 或 “摩擦法” 模擬實(shí)際使用工況 —— 振蕩法是將樣品放入密封容器振蕩特定時(shí)長(zhǎng)（如 10 分鐘），摩擦法則是讓樣品與不銹鋼板按固定壓力（如 500g）、速度（如 100mm/s）摩擦；隨后通過(guò)激光粒子計(jì)數(shù)器，對(duì)容器內(nèi)或摩擦區(qū)域的空氣進(jìn)行采樣，統(tǒng)計(jì)單位面積（通常為 m2）無(wú)塵布釋放的顆粒總數(shù)，最終以 “顆 /m2” 為單位輸出測(cè)試結(jié)果，數(shù)值越低表明無(wú)塵布潔凈性能越優(yōu)。